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300kV单球差校正透射电子显微镜 (JEM-ARM300F2)试运行公告

2025-11-26


 

taptap国际服最新版300kV单球差校正透射电子显微镜(JEM-ARM300F2)已经安装调试完成,即日起对校内开放试运行,欢迎校内师生预约测试!


仪器参数配置:

型号:JEM-ARM300F2(GRAND ARM2)

厂家:日本电子株式会社(JEOL)

灯丝类型:冷场发射电子枪

加速电压:40 – 300 kV

TEM线分辨率:≤50 pm (300 kV)

STEM分辨率:≤53 pm (300 kV)

相机:TVIPS XF416 相机

能谱:JED-2300T(158 mm2双探头)

应用领域

JEM-ARM300F2透射电镜配备有独特双12极子球差校正器以及自动校正软件使其可以轻松实现超高原子级分辨率成像,同时结合超大面积双EDS探头可实现高效的元素分析。搭载TVIPS XF416相机,在4k x 4k的全幅分辨率下可以以48 fps的帧速率进行实时观察。

温馨提示:

1、样品要求:样品无磁性;厚度在50纳米以下;样品要预先处理表面污染。

2、并非所有样品都适合球差电镜并获得理想的数据结果,建议先在普通透射电镜上筛选检查样品,再与实验老师探讨可行性。

3、目前开放高分辨和原子像拍摄功能。

 

预约请登录://m.hisxg.com

地点:点点app尖端科技楼101E

联系人:吴老师 18163510103

 

 

 

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